DC 780_PEM/AEM電解(jie)水(shui)測試(shi)臺(tai)

DC 780_PEM電(dian)解(jie)槽測試(shi)臺(tai)_膜電(dian)極(ji)測試(shi)

介(jie)紹(shao)

品(pin)牌(pai)：電弛新(xin)能(neng)源(yuan)

型(xing)號：DC 780

廠(chang)商(shang)：武漢(han)電弛新(xin)能(neng)源(yuan)有(you)限(xian)公(gong)司(si)

產(chan)品(pin)特色(se)與(yu)功(gong)能(neng)優勢

1、PEM與(yu)AEM均(jun)可兼(jian)容

2、自研(yan)軟(ruan)件可實現最(zui)多8機聯(lian)機

3、桌面(mian)型體(ti)積(ji)小適(shi)用(yong)於(yu)實驗(yan)室(shi)

DC 780_PEM電(dian)解(jie)槽測試(shi)臺(tai)_膜電(dian)極(ji)測試(shi)

電(dian)解(jie)水制氫是(shi)壹(yi)種將(jiang)電能轉化為氫能(neng)和氧能(neng)的(de)化學(xue)反(fan)應過程(cheng)。在(zai)充滿電解液(ye)的(de)電解(jie)槽(cao)中(zhong)通入(ru)直(zhi)流(liu)電，使(shi)得水(shui)分(fen)子(zi)在(zai)電(dian)極上(shang)發生(sheng)電化學(xue)反應，從(cong)而分(fen)解(jie)成(cheng)氫氣(qi)和氧氣(qi)。在(zai)這個過(guo)程(cheng)中，陰極產(chan)生氫氣(qi)，陽(yang)極(ji)產生氧氣(qi)。

電(dian)解(jie)水制氫的(de)原理(li)基(ji)於(yu)“法拉(la)第定律(lv)"，即(ji)氣(qi)體產量與(yu)電流(liu)和通電(dian)時(shi)間(jian)成(cheng)正比。電解水制(zhi)氫具(ju)有(you)清(qing)潔(jie)高(gao)效、對環境沒有(you)汙(wu)染等優點(dian)。商用化存在(zai)高(gao)能耗和高(gao)成(cheng)本(ben)問(wen)題(ti)。

電(dian)解(jie)水測試(shi)的(de)重(zhong)要(yao)性

隨(sui)著我國氫能(neng)頂(ding)層政策(ce)體系逐(zhu)步展(zhan)開(kai)，燃料(liao)電(dian)池(chi)和FCV技術(shu)亦日(ri)趨成(cheng)熟，氫氣(qi)的(de)來源(yuan)和成(cheng)本(ben)已成(cheng)為制(zhi)約(yue)行業(ye)發展(zhan)的(de)關鍵因(yin)素(su)之(zhi)壹(yi)，電解(jie)槽也(ye)隨(sui)之(zhi)成(cheng)為產(chan)業熱(re)點(dian)。

電(dian)解(jie)槽的(de)性能(neng)和成(cheng)本(ben)直接(jie)影響(xiang)著整(zheng)個產業的(de)發展(zhan)進程(cheng)。目前(qian)主(zhu)流(liu)電解(jie)水(shui)制(zhi)氫方案(an)中，電(dian)解槽仍為制氫設(she)備(bei)成(cheng)本(ben)中占(zhan)比最(zui)大的(de)部(bu)分(fen)，占(zhan) 50% 以上(shang)，是(shi)電(dian)解水制氫設(she)備(bei)中(zhong)的(de)核心(xin)壹(yi)環。有(you)關電(dian)解槽(cao)設(she)計(ji)研(yan)發(fa)的(de)測試(shi)儀器(qi)，作用凸(tu)顯。

780 電(dian)解(jie)水制氫測(ce)試(shi)系統(tong)硬(ying)件(jian)優勢

高(gao)精度流(liu)量計(ji)實時(shi)檢(jian)測(ce)H2\O2流(liu)量

穩定的(de)流(liu)量控(kong)制與(yu)溫度控制(zhi)

高(gao)精度背壓(ya)閥(fa)保(bao)證(zheng)穩定壓力(li)

⾃研(yan)冷凝(ning)、幹(gan)燥、過(guo)濾模塊

780 軟(ruan)件優勢

每(mei)秒5point快速數(shu)據提(ti)取速度

具(ju)備(bei)安(an)全(quan)邏(luo)輯，確(que)保(bao)電(dian)池測試(shi)穩定性

勾(gou)選(xuan)式(shi)測(ce)試(shi)條(tiao)件編(bian)輯畫(hua)面(mian)，快速編(bian)程(cheng)

數(shu)據實時(shi)顯(xian)示，重(zhong)點(dian)數(shu)據單獨顯(xian)示

歷(li)史(shi)數(shu)據顯示對比